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簡(jiǎn)要描述:Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學(xué)、曲面光學(xué)在正常和斜入角度評(píng)估的主要應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds lnsrtuments 光彈調(diào)制器( PEM)基于Exicor®雙折射測(cè)量技術(shù)。新一代的雙折射測(cè)量系統(tǒng)為該行業(yè)提供了分析和開(kāi)發(fā)下一代光刻透鏡、透鏡毛坯和高價(jià)值精密光學(xué)的新能力。
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Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學(xué)、曲面光學(xué)在正常和斜入角度評(píng)估的主要應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)。該系統(tǒng)是建立在Hinds lnsrtuments光彈調(diào)制器( PEM)基于Exicor®雙折射測(cè)量技術(shù)。新一代的雙折射測(cè)量系統(tǒng)為該行業(yè)提供了分析和開(kāi)發(fā)下一代光刻透鏡、透鏡毛坯和高價(jià)值精密光學(xué)的新能力。
該系統(tǒng)利用PEM調(diào)制光束的偏振狀態(tài)、先進(jìn)探測(cè)和解調(diào)電子來(lái)測(cè)量光學(xué)如何改變偏振狀態(tài)。這就導(dǎo)致了一個(gè)偏振狀態(tài)相對(duì)于另一個(gè)偏振狀態(tài)的光延遲測(cè)量結(jié)果是90。。利用這些數(shù)據(jù)可以對(duì)雙折射、快速軸向和理論殘余應(yīng)力進(jìn)行評(píng)估。在平板透鏡和己完成透鏡的研究和生產(chǎn)中, Hinds Instruments的Exicor斜入射角技術(shù)被用于評(píng)估光學(xué)應(yīng)力雙折射。
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