熱門(mén)關(guān)鍵詞: 測(cè)角儀,應(yīng)力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測(cè)設(shè)備,波片相位延遲,剪切
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簡(jiǎn)要描述:150AT 應(yīng)力雙折射系統(tǒng)是Hinds應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)家族系列產(chǎn)品,用于殘余應(yīng)力檢測(cè)。該應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)既可作為實(shí)驗(yàn)室科研探索測(cè)量光學(xué)組件應(yīng)力分布測(cè)量,也可用作諸如玻璃面板,透鏡,晶體,單晶硅/多晶硅、注塑成品等工業(yè)生產(chǎn)中檢測(cè)產(chǎn)品應(yīng)力分布。產(chǎn)品軟件直觀顯示待測(cè)樣品應(yīng)力情況,便于操作和日常監(jiān)測(cè)。
產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category詳細(xì)介紹
150AT 應(yīng)力雙折射系統(tǒng)是Hinds應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)家族系列產(chǎn)品,用于殘余應(yīng)力檢測(cè)。該應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)既可作為實(shí)驗(yàn)室科研探索測(cè)量光學(xué)組件應(yīng)力分布測(cè)量,也可用作諸如玻璃面板,透鏡,晶體,單晶硅/多晶硅、注塑成品等工業(yè)生產(chǎn)中檢測(cè)產(chǎn)品應(yīng)力分布。產(chǎn)品軟件直觀顯示待測(cè)樣品應(yīng)力情況,便于操作和日常監(jiān)測(cè)。
150AT 應(yīng)力雙折射系統(tǒng)(殘余應(yīng)力檢測(cè))可以根據(jù)客戶(hù)需求選擇設(shè)置,使得測(cè)量更有針對(duì)性(高精度/大范圍相位延遲量),系統(tǒng)有著*測(cè)量速度的同時(shí)也具有*的測(cè)量分辨能力(<1 mm grid spacing ),150AT應(yīng)力雙折射系統(tǒng)也提供傾斜位移平臺(tái)等設(shè)計(jì)來(lái)幫助客戶(hù)完成一些非常規(guī)掃描/測(cè)量需求。
產(chǎn)品特點(diǎn):
自動(dòng)X/Y位移平臺(tái)掃描
二維/三維圖形/參數(shù)表格顯示樣品應(yīng)力分布測(cè)量結(jié)果
臺(tái)式整機(jī)設(shè)計(jì)組裝
靈活位移平臺(tái)設(shè)計(jì),滿(mǎn)足個(gè)性化定制需求
強(qiáng)大數(shù)據(jù)擬合分析功能和友好用戶(hù)界面
產(chǎn)品咨詢(xún)
傳真:010-68214292
郵箱:gloria.yang@opcrown.com
地址:北京市門(mén)頭溝區(qū)蓮石湖西路98號(hào)院7號(hào)樓1006室
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