熱門關(guān)鍵詞: 測角儀,應(yīng)力雙折射,折射率,薄膜弱吸收,反射率,GDD檢測設(shè)備,波片相位延遲,剪切
18519585532
當(dāng)前位置:首頁 > 技術(shù)文章
激光功率計(jì)是用來測試連續(xù)激光的功率或者脈沖激光在某一段時間的平均功率的儀器。激光功率計(jì)采用了量熱吸收測量原理,其光譜響應(yīng)范圍0.19~11μm。既可以測量連續(xù)波激光輸出功率,也可以測量重復(fù)頻率脈沖激光輸出的平均功率。不僅具有很好的線性、穩(wěn)定性和探測器表面均勻性,而且具有平坦的光譜...
玻璃應(yīng)力測試的結(jié)果可以用于指導(dǎo)玻璃的使用和維護(hù)。如果測試結(jié)果顯示玻璃內(nèi)部存在應(yīng)力,那么需要采取相應(yīng)的措施來減少應(yīng)力,例如通過加熱或冷卻來改變玻璃的溫度,或者通過切割或加工來改變玻璃的形狀。這些措施可以減少玻璃的應(yīng)力,從而提高其安全性和使用壽命。玻璃應(yīng)力測試的作用是確保玻璃材料的質(zhì)量和安全性。通過測量玻璃內(nèi)部應(yīng)力,可以檢測出可能導(dǎo)致玻璃破裂或裂紋的缺陷。這種測試可以在玻璃制造過程中進(jìn)行,以確保玻璃的質(zhì)量符合標(biāo)準(zhǔn)。此外,玻璃應(yīng)力測試還可以在玻璃安裝過程中進(jìn)行,以確保安裝后的玻璃不...
激光功率計(jì)是用來測試連續(xù)激光的功率或者脈沖激光在某一段時間的平均功率的儀器。常用到激光能量計(jì),用來探測重復(fù)脈沖激光的單發(fā)能量和單脈沖激光的能量。熱電堆型激光功率計(jì)通過熱電堆結(jié)構(gòu)將光能轉(zhuǎn)換成熱量,再轉(zhuǎn)換為電信號輸出,通過校準(zhǔn)來準(zhǔn)確測量激光功率的大小。功率計(jì)的標(biāo)定功率計(jì)標(biāo)定的目的,是校準(zhǔn)自身測量***度,保證測量數(shù)值在功率計(jì)使用報告的誤差范圍內(nèi),從而保證功率計(jì)正常的使用***度。功率計(jì)標(biāo)定采用第三方功率計(jì)來測量,根據(jù)出廠標(biāo)定報告,采用不同的功率,在不損壞功率計(jì)的前提下,檢驗(yàn)功率計(jì)...
殘余應(yīng)力的測量方法可以分為有損和無損兩大類。有損測試方法就是應(yīng)力釋放法,也可以稱為機(jī)械的方法;無損方法就是物理的方法。機(jī)械方法用得多的是鉆孔法(盲孔法),其次還有針對一定對象的環(huán)芯法。物理方法中用得多的是X射線衍射法,其他主要物理方法還有中子衍射法、磁性法、超聲法以及壓痕應(yīng)變法。X射線衍射法殘余應(yīng)力測量在各種無損測定殘余應(yīng)力的方法之中,X射線衍射法被認(rèn)為可靠和實(shí)用的。它原理成熟,經(jīng)歷了七十余年的進(jìn)程,在國內(nèi)外廣泛應(yīng)用于機(jī)械工程和材料科學(xué),取得了好的成果。X-射線應(yīng)力測定儀是一...
激光功率計(jì)是用來測試連續(xù)激光的功率或者脈沖激光在某一段時間的平均功率的儀器。常用到激光能量計(jì),用來探測重復(fù)脈沖激光的單發(fā)能量和單脈沖激光的能量。熱電堆型激光功率計(jì)通過熱電堆結(jié)構(gòu)將光能轉(zhuǎn)換成熱量,再轉(zhuǎn)換為電信號輸出,通過校準(zhǔn)來準(zhǔn)確測量激光功率的大小。激光功率計(jì)一般由探頭和顯示設(shè)備組成,激光功率計(jì)探頭按照不同的原理和材料分為熱電堆型、光電二極管型、以及包含兩種傳感器的綜合探頭,激光能量計(jì)則有熱釋電傳感器和熱電堆傳感器探頭。激光功率計(jì)采用了量熱吸收測量原理,其光譜響應(yīng)范圍0.19~...
激光能量計(jì)是在一管狀金屬外殼中依次設(shè)有探測器、與該探測器電連接的放大器以及信號輸出單元,并且在外殼的激光入射口和探測器之間,設(shè)有一陶瓷空心腔,該陶瓷空心腔為封閉的空心柱體,柱體的軸向與激光進(jìn)入殼體方向平行。本發(fā)明由于在探測器前設(shè)計(jì)了漫射式空心柱面陶瓷腔作為衰減器,使激光經(jīng)過陶瓷衰減腔后出射的是均勻場,因而可以在該均勻場中的任一位置使用小尺寸探測器探測,同時可有效避免探測器的局部損傷問題,使本發(fā)明的激光能量計(jì)可用于高能量密度激光的測量。目前脈沖激光能量測量的難度和需求增加,能滿...
lumetrics測厚儀采用光學(xué)干涉原理,能夠非常準(zhǔn)確地測量各種材料的厚度,包括塑料、金屬、陶瓷等。測厚儀是一種用于測量物體表面薄膜或涂層厚度的儀器。它具有許多優(yōu)點(diǎn)。首先,它使用的光學(xué)干涉原理使得其測量精度非常高,可以達(dá)到亞微米級別。其次,它具有非常廣泛的適用范圍,可以用于測量各種材料和形狀的物體,包括平面、球體、圓柱體等。此外,lumetrics測厚儀還非常易于操作,用戶只需要將待測物體放入測量儀器中即可自動完成測量過程。除了以上優(yōu)點(diǎn)外,還具有許多其他的特點(diǎn)和功能。例如,它...
傳真:010-68214292
郵箱:gloria.yang@opcrown.com
地址:北京市門頭溝區(qū)蓮石湖西路98號院7號樓1006室